Спектроскопический эллипсометр серии ES01 - это высокоточный и быстрый спектроскопический эллипсометр, выпущенный ELLITOP для измерения тонких пленок в научных исследованиях и промышленных условиях. Диапазон длин волн охватывает ультрафиолет, видимый и инфракрасный свет. Спектроскопический эллипсометр серии ES01 основан на высокочувствительном блоке детектирования и программном обеспечении спектроскопического эллипсометра, используемом для измерения параметров структуры слоев ((например, толщины) однослойных и многослойных нанопленок, физических параметров (например, показатель преломления n, коэффициент экстинкции k или диэлектрические функции ε1 и ε2), его также можно использовать для измерения оптических свойств сыпучих материалов.

Характеристики спектроскопического эллипсометра	· Быстрое и точное измерение и анализ эллипсометрии · Спектральный диапазон выбирается в зависимости от конфигурации, от ультрафиолетового до инфракрасного · Режим измерения развертки ступенчатого компенсатора · Широкополосный суперахроматический компенсатор · Метод устранения многоквадрантных ошибок · Мощное программное обеспечение для измерения и анализа спектральной эллипсометрии ETES · Удобный дизайн ETES, простое управление, подходит как для новичков, так и для экспертов · Собственная база данных материалов ETES и предустановленные программные приложения упрощают моделирование
Спектральный диапазон	DU：193 – 1000nm DUI：193 – 1700nm U：245 – 1000nm UI：245 – 1700nm DIX1：193 – 2100nm UIX：245 – 2500nm V：370 – 1000nm VI：370 – 1700nm NIR：900 – 1700nm NIRX：1000 – 2500nm Другие спектральные диапазоны: по запросу
Угол падения	A: автоматическое изменение угла падения 30 ° －90 °, компьютерное управление и автоматическая регулировка, точность лучше 0,02 ° M: ручное изменение угла падения 40 ° －90 °, ручная регулировка, шаг 5 °, точность лучше 0,02 ° F: фиксированный угол падения Предустановка 70 ° (или 65 °, 75 °), регулируемая до 90 ° для измерения передачи, точность лучше 0,02 °
Повторяемость измерений	При стандартной толщине пленки SiO2 100 нм: Повторяемость – 0,01 нм Точность показателя преломления: 0,0005
Точность	d(Psi): 0.02 ° ，d(Delta): 0.04°
Время однократного измерения	Измерение значений Y / D в полном спектре Типичное время измерения 5-10 секунд

Срок поставки: 90 дней

Модель	Цена	Количество	Купить
ES01	По запросу

Отзыв

Зарегистрируйтесь, чтобы создать отзыв.

Высокое качество оказываемых услуг и минимальные сроки доставки лазеров, оптики и оптомеханики достигается за счет собственной логистики на всех участках доставки товара, осуществление таможенного оформления собственными силами, финансовой прозрачности внешнеторговых операций, отсутствия посредников в цепи поставки, контроля сроков изготовления и доставки лазерных и оптических систем и их элементов.

Каталог товаров

Категории товаров

Спектроскопический эллипсометр, модель ES01

Категории товаров

Будьте с нами на связи